由中國測試技術(shù)研究院等單位起草的《(20~150)kV X射線束半值層儀校準規(guī)范》已完成征求意見稿。
節(jié)選該規(guī)范部分內(nèi)容：
本規(guī)范適用于放射診斷(20～150)kV X射線的半值層厚度檢測儀的校準，其半值層范圍(0.1~14)mmAl。
引用文件：《GB/T 19629-2005醫(yī)用電氣設(shè)備 X射線診斷影像中使用的電離室和(或)半導體探測器劑量計》、《IEC 61267-2005 醫(yī)用診斷X射線設(shè)備–測量特性使用的輻射條件(Medical diagnostic X-ray equipment – Radiation conditions for use in the determination of characteristics)》、《IAEA TRS 457放射診斷劑量學：國際規(guī)定(Dosimetry in Diagnostic Radiology:An International Code of Practice)》等等。
半值層儀由探測器、減弱過濾和測量單元(或靜電計)三大部分組成。其原理是通過測量穿過不同厚度的附加過濾片射線強度，計算初始輻射強度減弱一半時的濾片厚度，得到半值層的值。
測量標準及其他測量設(shè)備
千分尺：測量范圍(0~25)mm，精度優(yōu)于0.01mm。
標準診斷水平劑量計：測量范圍 (6×10-5～1) Gy/min，年穩(wěn)定性不超過±1%，其電離室在輻射質(zhì)RQR 3～RQR 10(和/或RQA 3～RQA 10)及RQR-M1~
RQR-M4范圍的能量響均不超過±2.6%。
衰減過濾片：由純度優(yōu)于99.9%、均勻性優(yōu)于0.01mm的不同厚度鋁片組成，其組合厚度應(yīng)滿足(0.05~37)mmAl。用于40kV以上測量時，均勻性優(yōu)于10μm，40kV以下時優(yōu)于5μm。
溫度計：測量范圍(0～50)℃，最小分度值不大于0.1 ℃。
氣壓計：測量范圍(80～106)kPa，最小分度值不大于0.1 kPa。
定位系統(tǒng)：探測器的定位夾具應(yīng)使用低原子序數(shù)材料做成，定位裝置應(yīng)便于探測器和面積準直器的調(diào)節(jié)，可采用光學、激光等方法定位探測器和準直器，定位偏差不超過±1 mm。
輻射場
X射線輻射源的管電壓范圍(20～150)kV，管電壓誤差不超過±2.0%。
(40~150)kV的管電壓誤差不超過±2.0%，(20~40)kV的管電壓誤差不超過±0.5kV。常規(guī)診斷管電壓誤差不超過±2.0%，乳腺管電壓誤差不超過±0.5kV。
輻射場的輻射質(zhì)應(yīng)與附錄A一致。
輻射場為準直束輻射場，在測試平面，推薦射野10 cm×10 cm或φ10 cm。
半值層標準值測試示意圖見圖1，測試平面與焦點間距離d1推薦為1000 mm，測試平面與系列過濾片距離d2推薦為500mm，測試平面上射野推薦為10 cm×10 cm或φ10 cm。按照附錄A 中IEC 61267推薦的系列輻射質(zhì)建立輻射場或采用不同靶材和附加過濾的乳腺輻射質(zhì)建立輻射場。在每個輻射質(zhì)，用標準診斷水平劑量計測量射線穿過不同厚度的鋁片的射線強度，通過作圖法或最小二乘法擬合，確定射線強度減弱到初始值一半時的Al片厚度，該厚度即為該輻射質(zhì)的半值層(HVL)。
示值誤差可由相對示值誤差或示值誤差表示。被校儀器校準示意圖見圖2，測試平面與焦點間距離d推薦為1000 mm，測試平面上射野推薦為10 cm×10 cm或φ10 cm。將被校儀器探測器置于測試平面，探測器中心位于射線束軸上，且其中軸線與射線束軸垂直。
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