漆膜測厚儀附件:
◆基準片4片: 50um 、100um、 250um 、500um(選配:12um、25um)
◆基體1塊
◆電池2塊
◆說明書1份
◆保修卡1張
相關(guān)設備百格刀
漆膜測厚儀保修條款:
◆本儀器自售出之日起一個月內(nèi),如發(fā)生性能故障,產(chǎn)品本身及包裝完好無劃傷,可更換同型號產(chǎn)品(人為損傷除外)。
◆產(chǎn)品自售出之日起保修一年,終身維護。但配件不在保修范圍內(nèi)。
◆保修服務只限正常使用下有效。
◆保修期間由我公司提供郵寄費。
漆膜測厚儀特點:
是具有廣泛使用范圍的磁性和非磁性及兩用儀器。其技術(shù)參數(shù)完全符合國家標準。
涂層磁性非磁性雙用測厚儀
產(chǎn)品型號:GT8102
雙功能技術(shù)的測厚儀,完成磁感應和電渦流測量自動轉(zhuǎn)換
應用雙功能測量技術(shù),能夠自動識別磁性或非磁性底材,然后采用相應的測試方法,適用于各種測量環(huán)境??蓽y量非磁性底材上的非導電性涂層和磁性底材上的非磁性涂層的厚度。
漆膜測厚儀功能:
◆采用了磁感應測厚方法,即可測量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度;
◆可采用兩種方法對儀器進行校準,并可用基本校準法對測頭的系統(tǒng)誤差進行修正;
◆操作過程有蜂鳴聲提示;
◆電池電壓指示:低電壓提示
◆自動關(guān)機
◆測量方法:F 磁感應
漆膜測厚儀技術(shù)參數(shù):
◆測量范圍:0~1250um (標準量程)
◆分辨率:0.1/1
◆小曲面:F: 凸 5mm/ 凹 5mm
◆小測量面積:10mm
◆薄基底:0.3mm
◆使用環(huán)境:溫度:0-40℃ 濕度:10-85%RH
◆準確度:±(1.5~3%h)或±2um
◆公制/英制:可轉(zhuǎn)換
◆電源:2節(jié)5號電池
◆重量:99g(含電池)
簡介:
本儀器是具有廣泛使用范圍的磁性儀器。其技術(shù)參數(shù)完全符合國家標準。
是磁性便攜式覆層測厚儀,它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室,也可用于工程現(xiàn)場。本儀器能廣泛地應用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。是材料保護專業(yè)必備的儀器。
Fe質(zhì)探針可檢測所有非磁性涂層厚度,例如涂在鋼、鐵上的漆、粉末涂層、塑料、瓷、鉻、銅、鋅等。
NFe質(zhì)探針檢測所有絕緣涂層厚度,例如漆、塑料、瓷等。這些涂層須涂在諸如鋁、銅、黃銅或不銹鋼等非磁性金屬基體上。(一體化傳感器涂層測厚儀)
功能特點:
采用了磁性測厚方法,可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)。
參數(shù):
▲測頭類型:F。
▲測量原理:磁感應。
▲測量范圍:0-1250um。
▲低限分辨力:1?m(10um以下為0.1um)。
▲探頭連接方式:一體化。
▲示值誤差:一點校準(um)±[3%H 1]。
▲兩點校準(um): ±[(1~3)%H 1]。
▲測量條件:zui小曲率半徑(mm) 凸 1.5 凹9。
▲基體zui小面積的直徑(mm):ф7。
▲zui小臨界厚度(mm):0.5。
▲溫濕度:0~40℃,20%RH~90%RH。
▲統(tǒng)計功能:平均值(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、測試次數(shù)(NO.)、
標準偏差(S.DEV)。
▲工作方式:直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)。
▲測量方式:連續(xù)測量方式(CONTINUE)和單次測量方式(SINGLE)上下限設置。
▲存儲能力:15 個測量值。
▲打印/連接計算機:可選配打印機/不能連接電腦。
▲關(guān)機方式:自動。
▲電源:二節(jié)3.6V鎳鎘電池。
▲外形尺寸:150×55.5×23mm。
▲重量:150g。
▲基本配置:主機。
▲標準片一套(50um 100um 200um 500um 1000um)。
▲鐵基體。
▲充電器。
▲可選附件。
▲TA230打印機。
基本原理:
本儀器采用了磁性測厚法,可無損傷地測量磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層的厚度(如鋼、鐵、非奧氏體不銹鋼基體上的鋁、鉻、銅、琺瑯、橡膠、油漆鍍層)。 基本工作原理是:當測頭與覆蓋層接觸時。測頭和磁性金屬基體構(gòu)成一閉合磁路,由于非磁性覆蓋層的存在,使磁路磁阻變化,通過測量其變化可計算覆層的厚度。
基本配置:
▲TT220主機 一臺
▲標準樣片 1盒
▲標準基體 1塊
▲充電器 1個
主要功能:
▲可進行零點校準及二點校準,并可用基本校準法對測頭的系統(tǒng)誤差進行修正:
▲具有兩種測量方式地:連續(xù)測量方式(continue)和單次測量方式(single);
▲具有兩種工作方式:直接方式和成組方式;
▲具有刪除功能:對測量中出現(xiàn)的單個可疑數(shù)據(jù)進行刪除,也可刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù),以便進行新的測量;
▲設有五個統(tǒng)計量:平均值地(MEAN)、zui大值(MAX)、zui小值(MIN)、測試次數(shù)(NO.)、標準偏差(S.DEV);
▲具有打印功能,或打印測量值、統(tǒng)計值;
▲具有欠壓指示功能;
▲操作過程有蜂鳴聲提示;
▲具有錯誤提示功能;
▲具有自動關(guān)機功能。
優(yōu)點:
▲測量速度快:測量速度比其它TT系列快6倍;
▲精度高 :本公司產(chǎn)品簡單校0后精度即可達到1-2%是目前市場上能達到A級的產(chǎn)品,其精度遠高于時代等國內(nèi)同類.比EPK等進口產(chǎn)品精度也高;
▲穩(wěn)定性:測量值的穩(wěn)定性和使用穩(wěn)定性優(yōu)于進口產(chǎn)品;
▲功能、數(shù)據(jù)、操作、顯示全部是中文。
簡介:
該儀器是一種超小型測量儀,它能快速、無損傷、精密地進行磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層厚度的測量??蓮V泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域。由于該儀器體積小、測頭與儀器一體化,特別適用于工程現(xiàn)場測量。 本儀器符合以下標準: GB/T 4956─1985 磁性金屬基體上非磁性覆蓋層厚度測量 磁性方法 JB/T 8393─1996 磁性和渦流式覆層厚度測量儀 JJG 889─95 《磁阻法測厚儀》。
涂層測厚儀也叫覆層測厚儀,是一種用于測量金屬底材涂層厚度的專用儀器。
1、附著物質(zhì)的影響
儀器對那些妨礙探頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感。因此必須清除附著物質(zhì),以保證探頭與覆蓋層表面直接接觸。在進行系統(tǒng)校準時,選擇的基體的表面也必須是裸露的、光滑的。
2、強磁場的干擾
當儀器在1萬V左右的電磁場附近工作時,測量會受到嚴重的干擾。如果離電磁場非常近時還有可能會發(fā)生死機現(xiàn)象。
3、人為因素
涂層測厚儀之所以能夠測量到微米級就因為它能夠采取磁通量的微小變化,并把它轉(zhuǎn)化成為數(shù)字信號。在使用儀器測量過程中如果用戶對本儀器不熟悉就可能使探頭偏離被測機體,使磁通量csgia.net發(fā)生變化造成錯誤測量。所以建議用戶朋友初次使用儀器時,要先掌握好測量方法。探頭的放置方式對測量有很大影響,在測量中應使探頭與試樣表面保持垂直。并且探頭的放置時間不宜過長,以免造成基體本身磁場的干擾。
4、在系統(tǒng)校準時沒有選擇合適的基體。
基體最小平面為7mm,最小厚度為0.2mm,低于此臨界條件測量是不可靠的。
5、儀器發(fā)生故障。
此時可以和技術(shù)人員交流或者返廠維修。
標簽: 涂層測厚儀 涂層測厚儀 涂層測厚儀使用的影響因素_涂層測厚儀超聲波測厚儀的應用領(lǐng)域
按超聲波脈沖反射原理設計的測厚儀可對各種板材和各種加工零件作精確測量,也可以對生產(chǎn)設備中各種管道和壓力容器進行監(jiān)測,監(jiān)測它們在使用過程中受腐蝕后的減薄程度。可廣泛應用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個領(lǐng)域。OU1600超聲波測厚儀
超聲波測厚儀使用技巧:(以時代TT100超聲波測厚儀為例)
1、一般測量方法
(1)在一點處用探頭進行兩次測厚,在兩次測量中探頭的分割面要互為90°,取較小值為被測工件厚度值。
(2)
2、精確測量法
在規(guī)定的測量點周圍增加測量數(shù)目,厚度變化用等厚線表示。
3、連續(xù)測量法
用單點測量法沿指定路線連續(xù)測量,間隔不大于
4、網(wǎng)格測量法
在指定區(qū)域劃上網(wǎng)格,按點測厚記錄。此方法在高壓設備、不銹鋼襯里腐蝕監(jiān)測中廣泛使用。
影響超聲波測厚儀示值的因素
(1)工件表面粗糙度過大,造成探頭與接觸面耦合效果差,反射回波低,甚至無法接收到回波信號。對于表面銹蝕,耦合效果極差的在役設備、管道等可通過砂、磨、挫等方法對表面進行處理,降低粗糙度,同時也可以將氧化物及油漆層去掉,露出金屬光澤,使探頭與被檢物通過耦合劑能達到很好的耦合效果?! ?SPAN lang=EN-US>
(2)工件曲率半徑太小,尤其是小徑管測厚時,因常用探頭表面為平面,與曲面接觸為點接觸或線接觸,聲強透射率低(耦合不好)??蛇x用小管徑專用探頭(
(3)檢測面與底面不平行,聲波遇到底面產(chǎn)生散射,探頭無法接受到底波信號。
(4)鑄件、奧氏體鋼因組織不均勻或晶粒粗大,超聲波在其中穿過時產(chǎn)生嚴重的散射衰減,被散射的超聲波沿著復雜的路徑傳播,有可能使回波湮沒,造成不顯示??蛇x用頻率較低的粗晶專用探頭(2.5MHz)。