光譜照度計是通過測量被測光源可見光譜區(qū)光譜功率分布進(jìn)而計算得到照度和色度參數(shù)的測量儀器，此類儀器廣泛應(yīng)用于各類現(xiàn)場照明測量領(lǐng)域，也可用于光源產(chǎn)品的研發(fā)、生產(chǎn)線質(zhì)量監(jiān)控等環(huán)節(jié)。

一、工作原理

人射光經(jīng)過分光系統(tǒng)使得不同波長的光平鋪成像到陣列式光電探測器上，從而陣列探測器的像素與波長形成對應(yīng)關(guān)系，通過信號讀取電路即可獲取到有效波段內(nèi)的光譜強(qiáng)度信息，陣列式光電探測器主要類型包括：電荷藕合元件（CCD）、互補(bǔ)性氧化金屬半導(dǎo)體器件（CMOS）、光電二極管陣列器件（PDA）等。除采用陣列式光電探測器外，還可以在分光系統(tǒng)中增加出射狹縫，采用非陣列的光電探測器結(jié)合光譜掃描獲取到光譜功率分布信息。信號讀出電路將原始的光譜功率分布信息發(fā)送到微處理器后經(jīng)過光譜修正、照度及色度計算等過程，最終顯示照度、色度及光譜曲線等測量結(jié)果。

入射光學(xué)系統(tǒng)可以包含余弦修正器、光纖、積分球、必要的鏡頭等部件。分光系統(tǒng)一般基于光柵器件進(jìn)行分光，光柵又包括反射光柵和透射光柵。

二、環(huán)境條件

1、溫度：（23±5）℃；

2、相對濕度：不超過85%；

3、實(shí)驗室應(yīng)為暗室，室內(nèi)不應(yīng)有強(qiáng)烈震動或強(qiáng)電磁場干擾。

三、計量特性

1、照度相對示值誤差：±4.0%；

2、方向性響應(yīng)總誤差：≤4.0%；

3、非線性：≤1.0%；

4、波長示值誤差：±1nm；

5、雜散光系數(shù)：≤1.0%；

6、CIE A標(biāo)準(zhǔn)光源條件下，色度（x，y）示值誤差：±0.003；CIE A標(biāo)準(zhǔn)光源與透射式標(biāo)準(zhǔn)色板組合條件下，色度（x，y）示值誤差：±0.04。

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